GP-L600-324K 4K ウルトラ HD ウェーハ検査用金属顕微鏡は、4K ウルトラ HD を備えた研究グレードのウェーハ検査金属顕微鏡です。を採用しています。 ナノスケールの表面高さを検出するためのオプションのノマルスキー DIC モジュールを備えた無限遠補正光学システム バリエーション。明視野観察と偏光観察に対応しています。三眼ポートにより、 カメラの設置と冶金分析ソフトウェアとの接続。などのワークフローに適しています。 金属組織学的研究、半導体検査、材料の故障解析。
このウェーハ検査用 4K Ultra HD 金属顕微鏡は、金属組織の微細構造や表面形態の顕微鏡観察に適しています。それ 冶金学、鉱物学、精密工学分野の理想的な研究ツールとして機能します。
| アイテム | 説明 |
| 製品 | GP-L600-324K 4K Ultra HD 搭載ウェーハ検査金属顕微鏡 |
| カテゴリ | DIC微分干渉と互換性のある研究室用研究グレードの三眼金属顕微鏡、 明視野・暗視野・偏光観察 |
| コア技術 | 三眼同期観察光学系、マルチモード統合照明（明視野、 暗視野、偏光子、微分干渉コントラスト DIC)、高精度プロフェッショナル 冶金学的な 対物レンズセット、4K Ultra HD CMOSイメージセンサー、デュアル計測システム（モニター内蔵） 測定+PCソフトウェア測定)、HDMI+ギガビットLANデュアルチャンネル信号伝送、デュアルストレージ テクノロジー、二次開発アクセスをサポートするオープン アーキテクチャ |
| 主な仕様 | 視覚倍率: 50/100/200/500×。電子倍率: 190/380/760/1900×;デュアル出力 インターフェイス: HDMI + ギガビット LAN ポート。 4K キャプチャ解像度: 3840×2160;マニュアルフォーカスのみ。 二重測定 モード: 内蔵の精密測定 + 一致した PC ソフトウェア測定。デュアルストレージモード: Uディスク ストレージ + コンピュータ ソフトウェア ストレージ。モニター端末：寸法測定、HD画像プレビュー、写真アーカイブ。 PC端末：寸法測定、写真保存。ユニット全体が二次開発ドッキングをサポートします。 |
| 代表的な用途 | 半導体ウエハの故障解析、金属材料の金属組織検査、コーティング薄膜 微細構造観察、精密半導体パッケージ検査、先端材料研究室 研究、医療生体材料観察、電子部品の微小欠陥検出 |
| メーカー | 昆山高品精密機器有限公司 |
| 製造元の所在地 | 中国江蘇省昆山市（上海に隣接） |
接眼レンズとモニターを介して同時に観察できる三眼ハウジングに4Kカメラが内蔵されています。 HDMI経由のデュアルポート出力 ギガビット LAN はウルトラ HD マイクロ画像をリアルタイムで送信します。
DIC観察、明視野観察、暗視野観察、偏光観察に対応。 4段階倍率、光学50～500倍、最大 デジタル 最大 1900 倍の倍率で、微細形状の検査に鮮明な詳細を提供します。
強化されたレンズバレルアセンブリと組み合わせたデュアル同軸フォーカスノブにより、安定したフォーカシングが可能になり、画像を最小限に抑えます 震えている。
厚みのある一体型金属スタンドとステージブラケットにより重心が下がり、顕微鏡の安定性を保ちます。 長時間にわたる研究レベルの検査。
硬質金属ボディを備えたモジュール式光学レイアウト、研究所、研究機関、半導体に最適 製造施設。
ウェーハとチップの検査用に最適化されています。半導体試験、金属組織分析、 材料研究と精密品質評価作業。
4K 写真とビデオのキャプチャ、デュアル測定モード (オンスクリーン内蔵 + PC ソフトウェア)。 U-disk によるデュアルストレージと コンピューター。 被写界深度合成および画像結合機能は、サポートされている PC ソフトウェア上でのみ実行されます。 二次開発というのは、 画像のアーカイブ、比較、および高度な分析のために LAN ポート経由でサポートされています。
1. 光学観察モード:DIC、明視野、暗視野を含むマルチモード光学系をサポート 結晶およびコーティングの組織観察には偏光が使用されます。通常の金属顕微鏡では、 基本的な明視野であり、超薄層や結晶の微細構造を視覚化することはできません。
2. イメージング システム:ネイティブ 4K Ultra-HD カメラ、接眼レンズとモニターの同期表示。普通 金属顕微鏡は低解像度の 2K カメラを採用し、歪んだ高倍率で接眼レンズのみで観察します。 出力。
3.倍率調整：4 ギアの倍率範囲は 190 ～ 1900 倍で、マクロの概要をカバーします そして微細な細部の検査。通常の金属顕微鏡は倍率ギアが少なく、画像がぼやけてしまいます。 ハイパワー。
4. 測定と記録:内蔵モニターによる正確な測定と写真ビデオ録画 能力。通常の金属顕微鏡には測定機能が搭載されておらず、すべての分析には PC ソフトウェアが必要です そしてアーカイブ。
半導体およびマイクロエレクトロニクス (DIC のコア アプリケーション):
シリコン ウェーハ、リソグラフィ スライス、IC チップ、PCB、FPC フレキシブル回路、はんだ接合部、パッケージング コンポーネント。
検査対象：チップ表面トポグラフィー、ウェーハエッチングパターン、ナノスクラッチ、冷間はんだ接合部、
酸化やピンの変形が発生します。微分干渉コントラスト (DIC) により、微妙な表面の高さの違いが強調表示されます
190 ～ 1900 倍の倍率範囲でのマイクロ回路スライス観察用。
金属組織学的金属標本:
合金金属組織セクション、スチール、精密スタンプされた金属ハードウェア。
検査対象：金属粒子組織、熱処理解析、表面微小クラック、エッジ欠け、微細バリ、
摩耗痕跡と内部材料の不純物。金属結晶の明視野/暗視野/偏光モード
構造観察。
研究室サンプル: 結晶、粉末、繊維および薄膜:
化学結晶、金属粉末、炭素繊維、光学コーティング膜。
結晶形態、粒子の輪郭、フィルムの剥離、微細コーティングの質感を観察します。偏光
結晶の分極特性を特定します。
オプトエレクトロニクスおよび精密プラスチック部品:
LEDチップ、光学レンズ、ガラス基板、半導体パッケージ用接着剤。
マイクロポア、ナノスクラッチ、接着剤の剥離、気泡、汚れ、微妙な表面の凹凸を検出します。
高精度小型部品:
コネクタ、端子、マイクロスプリング、小さなプレス加工品。
ギャップ、穴径、ピッチ、表面高低差を4Kピクセルレベルで正確に測定。 DICビジュアライズズ
微妙な圧着変形。
大学研究室およびハイエンド半導体の QC:
材料研究実験、ウェーハ入荷検査、金属組織試料観察。写真ビデオ
接続された PC を介してアーカイブし、精密測定 QC レポートをエクスポートします。
力学：フルメタル構造により高剛性、耐振動性を実現。精度 バックラッシュのない粗微フォーカシング。摩耗が少なく最小限の高精度手動XYメカニカルステージ クリアランス。三眼の光路は、対物レンズを切り替えるときにも光学的な一致を維持します。
光学：防曇ハードコーティングを施した無限遠補正プランアクロマート冶金対物レンズ。 透過反射型 12V-100W ハロゲンランプ照明。
イメージングと測定:830万画素4K産業用CMOSカメラ。デュアル出力: HDMI + ギガビット LAN ポート、産業環境での使用に適した優れた耐干渉性能。組み込みのオンモニター測定をサポート PC ソフトウェアの測定。 U ディスクと PC ソフトウェアを介したデュアルパス ストレージ。被写界深度合成と 画像合成はPCソフトのみで可能です。ギガビット LAN 経由で利用可能な二次開発インターフェイス。
ネイティブ3840*2160 4Kイメージングを搭載。金属組織分析、チップ回路検査、および 専門的なテストレポートを生成し、金属粒子、微小な傷、小さな微小な欠陥を明確に明らかにします。
マニュアルフォーカス設計で、静的な実験室サンプルや低頻度のワークピース交換に適しています。安定した 微調整 長期にわたる正確な静的サンプル観察のためのノブ。
標準的な手動移動ステージとチップスライス用の垂直三眼冶金光路、中小型サイズ プリント基板 金属組織検査の反射グレアを効果的に抑制します。
デュアル倍率範囲: 50 ～ 500X 光学倍率、190 ～ 1900X デジタル倍率。両方の完全な標本をカバー 概要と微粒子/微小欠陥の検査。
内蔵のオンデバイス測定と PC ソフトウェア測定をサポートします。 HDMI+Gigabit-LANポートを搭載。写真, ビデオと測定データは、準拠した U ディスクまたはコンピュータを介して保存できます。二次開発のサポート対象 生産ラインの統合とラボデータのトレーサビリティ。
ご要望に応じて、ニュートラル梱包での発送も可能です。
| モデル | GP-L600-324K |
| 解決 | 3840×2160 |
| 実有効画素数 | 830万画素 |
| ピント合わせ方法 | マニュアルフォーカス |
| 光学フォーマット | 1/1.7インチ |
| ピクセルサイズ | 1.85μm×1.85μm |
| 出力方法 | HDMI + ギガビットイーサネット LAN ポート |
| 各出力インターフェースに対応した詳しい機能紹介 | ① HDMI は 4K 対応ディスプレイに接続します。組み込みのプロフェッショナルな画像処理ファームウェアのサポート
写真撮影、ビデオ撮影、寸法測定、画像再生および画像比較、操作
リアルタイムでマウスで操作します。 ② ギガビット LAN ポートはネットワーク用のルーター、スイッチ、またはコンピューターに接続します。 画像 送信。同じネットワーク セグメント内のコンピュータはリアルタイム ビデオを受信し、キャプチャをトリガーできます。 マッチングソフトウェア経由。 |
| フレームレート | HDMI: 60fps @3840×2160 ギガビットLAN: 20fps @1920×1080 |
| 被写界深度合成 | / |
| 画像の貼り合わせ | / |
| 測定方法 | モニター上測定システム＋PCソフト測定機能を内蔵 |
| 測定精度 | 0.001mm |
| 測定単位 | mm/μm/mil/inch（4単位切替） |
| 測定ツール | 長さ、角度、ラジアン、円、多角形、ポリライン、中心間距離、長方形、注釈 追加して、 自動エッジ検出、スケールバーなど |
| 保管方法 | U ディスク ストレージ + PC ソフトウェア ストレージ |
| 表示言語 | 簡体字中国語/英語(切替可能) |
| プロセッサー | ARM Cortex-A17 クアッドコア @ 最大 1.4 GHz メイン制御プロセッサ |
| オペレーティング·システム | Linux 3.1カーネルをベースとした独自開発の測定ファームウェア |
| 画像の命名 | 自動または手動の命名が可能 |
| ビューイングヘッド | 30°傾斜ヒンジ式三眼ヘッド。瞳孔間の調整範囲: 54-76 mm。 2つのビーム分割 比率: 100:0、0:100 |
| 観察モード | ★明視野/暗視野/偏光/DIC（DICハードウェアはオプション） |
| 照明システム | 透過反射型落射照明システム、100 ～ 240V の幅広い電圧入力、調整可能 フィラメント 中央、連続的に調整可能な光強度。 |
| 立つ | ① 透過反射兼用ラック。低い手元位置の同軸粗微フォーカシング機構。
粗調整ストローク：33mm、微調整精度：0.001mm。ロックとリミッターを装備
デバイス。 ② 可変開口絞り、視野絞り、および可変絞りを備えた明視野および暗視野リフレクター 調整可能なセンターアセンブリ。 ③干渉フィルターとカラーバランスプレート（白色光） 反射光の光路。 ④明暗視野切替装置。カラーフィルター用のスロットと 偏光アクセサリー。 |
| メカニカルステージ | 4インチ手動メカニカルステージ。ステージ寸法：230mm×215mm、 X-Y移動量：105mm×105mm。ガラス 透過観察と反射観察の両方に対応した試料キャリアプレート。 |
| 光源 | 12V 100W ハロゲンランプチャンバー（反射光）; 12V 100Wハロゲンランプ（透過光）。 |
| 偏光機能 | 30度偏光子ソケット（反射光）。 360°回転可能な偏光用アナライザーソケット 観察。 |
| 接眼レンズ | 視度調整可能な PL10X/22 mm 広角プランフィールド接眼レンズ 2 個 (レティクル付き接眼レンズ 1 個) スケール）。 |
| ノーズピース | ★明暗視野5穴対物ノーズピース |
| DIC機能 | 微分干渉コントラスト関数。 DICインサートボードアクセサリはオプションであり、付属しません。 で 標準構成。 |
| 電子インターフェース | 0.5X C マウント カメラ インターフェイス、調整可能なフォーカス; CTV 1X は価格差補償付きのオプションです。 |
| 冶金用対物レンズ | ★ 明暗視野半破壊冶金対物レンズ ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15、動作中 距離：9.00mm×1本 ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0.30、作動距離：9.00mm ×1本 ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0.45、作動距離：3.40mm×1本 ④ OLIPBD50NC 50X/0.55、作動距離：7.50mm ×1個 ⑤ OLIPBD100NC 100X/0.80、作動距離: 2.10 mm (オプション、標準パッケージには含まれていません) |
| 光学倍率 | 50X、100X、200X、500X（4段階切替） |
| 電子倍率 | 約190X、380X、760X、1900X (4段階切替可能);オプションの倍率範囲: 380-3800X。 |
GAOPIN 顕微鏡は、大手企業、研究機関、大学で使用されています。私たちのコラボレーション 関係には次のものが含まれます。
天津商科大学 – 材料実験教育、マイクロイメージング、実験データのアーカイブ
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – 精密加工品の寸法および微小欠陥の検出 部品
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – 精密コネクタおよび部品検査
上海光学精密機械研究所、CAS – 先端光学研究および 光学部品の特性評価
西安交通大学 – 先端材料科学および精密光学実験観察
上海陶磁器研究所、CAS – 無機セラミックスと新エネルギー材料の微量分析
昆山高品精密器械有限公司は2011年に正式に設立されました。 根深い 光学検査機器の専門知識は 2005 年に遡ります。当社はテクノロジーに焦点を当てた企業です。 配達する 工業用顕微鏡の設計、研究開発、グローバル販売、アフターサポートまでをカバーするフルサイクルのサービス。私たちの コア エンジニアリングチームは10年以上の専門的な光学機器開発経験を持ち、 実証済みの安定した技術と一貫した信頼の品質。
GAOPIN は、世界中の 100 を超える光学機器モデルを含む広範な製品カタログを維持しています。 顧客。 当社は、さまざまな工業用検査および検査向けに、柔軟でコスト効率の高いカスタマイズされた顕微鏡ソリューションを開発しています。 研究室の研究要件。
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A1: HDMIハイビジョン出力とLANポートのデュアルインターフェースを搭載しています。リアルタイムイメージングをサポートします。 モニターに直接接続するか、ネットワークケーブルを介してコンピューターに接続します。 USB および WIFI インターフェイスがなければ、 独立した操作とコンピュータによる共同作業の両方をサポートします。
A2: 4K Ultra HD 写真とビデオの録画をサポートしています。ファイルは 32 GB 以内の FAT32 フォーマットの U-disk に保存できます 容量またはコンピューターのストレージ。画面上と PC ソフトウェアの両方で正確な測定をサポートし、データを保存し、 レポートのエクスポート機能。
A3: 電源と適合するアダプターを確認してください。 HDMI ケーブルをしっかりと固定します。モニターを正しい HDMI 信号ソースに切り替えます。 デバイスを再起動して、黒い画面や画像が表示されない障害を解決します。
A4: マニュアルフォーカスモデルです。鮮明な画像を得るために、フォーカス ハンドホイールをゆっくりと調整します。対物レンズをしっかりとロックし、寝かせる サンプルを平らにして定期的にレンズの埃や汚れを掃除してください。
A5: 顕微鏡と PC が同じ IP セグメント内にあることを確認してください。ファイアウォールと傍受ソフトウェアを無効にします。座り直す ネットワークケーブル;デバイスとサポート測定ソフトウェアを再起動して、通常の接続を確立します。
住所
中国昆山市華橋鎮双連国際ビジネスセンタービル2
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